Typ logiky: Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers, Napájacie napätie: 4.5V ~ 5.5V, Počet bitov: 8, Prevádzková teplota: -40°C ~ 85°C, Typ montáže: Surface Mount, Balenie / puzdro: 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width),
Typ logiky: Scan Test Device With Transceivers And Registers, Napájacie napätie: 4.5V ~ 5.5V, Počet bitov: 18, Prevádzková teplota: -40°C ~ 85°C, Typ montáže: Surface Mount, Balenie / puzdro: 64-LQFP,
Typ logiky: Scan Test Device with Buffers, Napájacie napätie: 4.5V ~ 5.5V, Počet bitov: 8, Prevádzková teplota: 0°C ~ 70°C, Typ montáže: Through Hole, Balenie / puzdro: 24-DIP (0.300", 7.62mm),
Typ logiky: Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers, Napájacie napätie: 4.5V ~ 5.5V, Počet bitov: 8, Prevádzková teplota: -40°C ~ 85°C, Typ montáže: Surface Mount, Balenie / puzdro: 28-BSSOP (0.295", 7.50mm Width),
Typ logiky: Scan Test Device with Universal Bus Transceivers, Napájacie napätie: 4.5V ~ 5.5V, Počet bitov: 20, Prevádzková teplota: -40°C ~ 85°C, Typ montáže: Surface Mount, Balenie / puzdro: 64-LQFP,